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華科智源HUSTEC-1600A-MT靜態(tài)參數(shù)測試儀可用于多種封裝形式的IGBT測試,還可以測量大功率二極管、IGBT模塊,大功率IGBT、大功率雙極型晶體管,MOS管等器件的V-I...
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華科智源HUSTEC-1600A-MT靜態(tài)參數(shù)測試儀可用于多種封裝形式的IGBT測試,還可以測量大功率二極管、IGBT模塊,大功率IGBT、大功率雙極型晶體管,MOS管等器件的V-I...
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產(chǎn)品介紹HUSTEC-DC-2010晶體管直流參數(shù)測試系統(tǒng)是由我公司技術(shù)團(tuán)隊(duì)結(jié)合半導(dǎo)體功率器件測試的多年經(jīng)驗(yàn),以及眾多國內(nèi)外測試系統(tǒng)產(chǎn)品的熟悉了解后,完全...
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廣州貝拓晶圓測厚系統(tǒng)用于研究材料在高溫狀態(tài)下熔體與其相應(yīng)的基底材料間的接觸角變化規(guī)律。高溫接觸角測量儀HTC對于高熔點(diǎn)材料能實(shí)現(xiàn)高真空或惰性氣體保護(hù)氣氛下的表界...
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廣州貝拓顯微拉曼光譜儀CVRam是整體化設(shè)計(jì)的785nm的顯微拉曼光譜儀,結(jié)合了顯微鏡及拉曼光譜儀兩者的優(yōu)點(diǎn),同時(shí)克服了光纖耦合光損失過大的問題,利用高性能小型光譜儀就...
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廣州貝拓手持拉曼光譜儀手持拉曼光譜儀PTRAM785應(yīng)用于有害物快檢、食品安全、地質(zhì)地礦等多個(gè)領(lǐng)域;集自動校準(zhǔn)、檢測、圖譜處理、數(shù)據(jù)庫檢索和識別于一體,操作簡便快速...
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中圖儀器SuperViewW納米級白光3d表面輪廓檢測儀用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量。它在半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納...
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中圖儀器GTS大范圍激光跟蹤高精度測量儀是高精度、便攜式的空間大尺寸坐標(biāo)測量機(jī)。它集激光干涉測距技術(shù)、光電檢測技術(shù)、精密機(jī)械技術(shù)、計(jì)算機(jī)及控制技術(shù)、現(xiàn)代數(shù)值計(jì)算理...
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中圖儀器WD4000半導(dǎo)體晶圓硅片表面3D量測系統(tǒng)用光學(xué)白光干涉技術(shù)、精密Z向掃描模塊和高精度3D重建算法,Z向分辨率最高可到0.1nm。它通過非接觸測量,將晶圓的三維形...
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Agilent分光光度計(jì)AgilentCary4000紫外-可見分光光度計(jì)Cary4000是一款高性能紫外-可見分光光度計(jì),它在175-900nm范圍內(nèi)具有優(yōu)異的光度特性,使其成為僅需極少樣品前處...
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安捷倫紫外分光光度計(jì)AgilentCary60紫外可見分光光度計(jì)AgilentCary60紫外-可見分光光度計(jì)采用高效、準(zhǔn)確和靈活的設(shè)計(jì),旨在滿足您當(dāng)前和未來的挑戰(zhàn)性測試需求。Agilent...
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Agilent熒光光度計(jì)AgilentCaryEclipse熒光分光光度計(jì)使用簡單易用且可靠的熒光分光光度計(jì)可滿足您的分析需求,該分析儀可具有較高的靈敏度、可靠性以及良好的取樣功能...
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安捷倫熒光分光光度計(jì)AgilentCaryEclipse產(chǎn)品特性:●多種采集模式:熒光、磷光、化學(xué)/生物發(fā)光和時(shí)間分辨磷光測量都可輕松實(shí)現(xiàn),無需更改任何硬件組件●使用維護(hù)成...
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