• 測試項目：

掃描電鏡觀察與微小區(qū)域成分測試

• 項目內(nèi)容：

1. 測試目的：高倍顯微組織觀察,微區(qū)成分分析,斷口組織觀察,微鍍層組織量測等.
2. 相關(guān)法律法規(guī)：無
3. 參考標(biāo)準(zhǔn)（或可測標(biāo)準(zhǔn)）：I
4. 試驗設(shè)備：
5. 測試項目：

6. 設(shè)備名稱：SEM+EDS

   制造商：HITACHI

   設(shè)備型號:S-3700N

   放大倍數(shù):5~30萬倍  

      分析元素范圍: Be(4)~U(92)

      最大樣品尺寸: 300 mm

   優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)有限公司 (富士康華南檢測中心簡稱Foxconn CMC)成立于1996年，配合高科技電子產(chǎn)品設(shè)計、驗證、生產(chǎn)過程中的檢測需求組建科技實驗室，創(chuàng)始團隊匯集科技精英、憑借雄厚的技術(shù)背景和開拓創(chuàng)新精神，在一張白紙上點石成金。華南檢測中心迄今發(fā)展成目前七大功能22個專業(yè)的實驗室，占地6.6萬平方米，主要檢測設(shè)備4300余臺(套) ， 擁有1500人的管理、技術(shù)人員團隊，打造了一個提供快速、精密、準(zhǔn)確檢測能力、服務(wù)網(wǎng)絡(luò)遍及全國的大型旗艦實驗室。于2003年取得中國國家合格評定委員會(CNAS) 的初次認(rèn)可。實現(xiàn)『一份報告、全球通行』。聯(lián)系人：張成鳳，聯(lián)系電話：18761715006座機：0512-57785888-26784.地址：江蘇省昆山市玉山鎮(zhèn)南淞路299號