2025年09月20日 星期六
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做羥基磁珠的TEM
問題進(jìn)行中,期待更多專家解答
做羥基磁珠的TEM
瀏覽:495 解答:1發(fā)布人:柳
- 咨詢方式:文本
- 問題類別:詢盤
- 發(fā)布時(shí)間:2020-12-21 13:23:45
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問題描述:
做羥基磁珠的TEM
已解答: (1)
http://www.weipingtest.cn/wpkj_gxyq 我們能做,歡迎咨詢
預(yù)約須知
注意:首次下單用戶下單前請(qǐng)聯(lián)系項(xiàng)目經(jīng)理確認(rèn)需求
1,粉體、液體、塊體均可測(cè)試
2,樣品的厚度不超過100nm,如果顆粒稍大一點(diǎn),可適當(dāng)研磨至100nm以下(可先拍SEM判定顆粒大?。?
3,一般制樣選微珊銅網(wǎng)即可,如果顆粒直徑小于10nm用超薄碳膜制樣;樣品含Cu,需要拍EDS能譜和mapping可選鎳網(wǎng)或者鉬網(wǎng)等;薄膜或塊狀樣品需另行制樣(如離子減薄、包埋切片、FIB等)
4,強(qiáng)磁樣品要求顆粒大小不超過200nm,且不接受自己制樣
5,請(qǐng)務(wù)必仔細(xì)檢查您的樣品,若發(fā)現(xiàn)以弱磁強(qiáng)磁充當(dāng)非磁 或者 以強(qiáng)磁充當(dāng)弱磁非磁,我們將可能無法安排您的實(shí)驗(yàn),不承擔(dān)以此造成的時(shí)間和樣品損失;而且因隱瞞樣品信息導(dǎo)致儀器損壞,需要您承擔(dān)全部賠償責(zé)任!?。?
透射電子顯微鏡TEM
型號(hào):FEI Tecnai F20, 日本電子 JEM2100 or JEM2100F 牛津EDS
測(cè)試項(xiàng)目:
可測(cè)項(xiàng)目:形貌、能譜點(diǎn)掃、能譜線掃、mapping、HAADF(STEM)、衍射
備注:非磁、弱磁、強(qiáng)磁樣品均可拍攝
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