2025年09月22日 星期一
生意寶檢測(cè)通,檢測(cè)認(rèn)證一站式平臺(tái)!
- 檢測(cè)認(rèn)證
- |
- 儀器設(shè)備
- |
- 技術(shù)咨詢
- |
- 企業(yè)庫(kù)
- |
- 專家?guī)?/a>
- |
- 標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)
- |
- 資料庫(kù)
- |
- 大型儀器共享
- |
- 資訊
- |
- 展會(huì)
- |
- TBT研究
- |
- 工業(yè)品商城

- 您所在的位置:首頁 >
礦粉進(jìn)行 xrd xrf 檢測(cè)
問題進(jìn)行中,期待更多專家解答
礦粉進(jìn)行 xrd xrf 檢測(cè)
瀏覽:540 解答:1發(fā)布人:張有鵬
- 咨詢方式:文本
- 問題類別:詢盤
- 發(fā)布時(shí)間:2020-07-01 14:44:04
0積分
問題描述:
礦粉進(jìn)行 xrd xrf 檢測(cè)
已解答: (1)
http://www.weipingtest.cn/wpkj_gxyq 我們能做,歡迎咨詢
XRF預(yù)約須知
1,樣品是否可回收請(qǐng)聯(lián)系經(jīng)理確認(rèn)!
2,粉末樣品需要至少1g;
3,樣品在測(cè)試之前盡量干燥;
4,含碳元素含量超過10%的樣品,請(qǐng)先將樣品燒成灰,再測(cè)試;
5,如因樣品量過少或粘度低,硬度高等原因?qū)е聹y(cè)試時(shí)必須用硼酸壓片需另行支付壓樣成本費(fèi);
6,非粉末樣品等特殊需求,有任何問題,請(qǐng)聯(lián)系相關(guān)負(fù)責(zé)老師或撥打客服熱線。
默認(rèn)采用壓片法測(cè)試,如果需要熔片法,請(qǐng)聯(lián)系相關(guān)負(fù)責(zé)老師或撥打客服熱線。
X射線熒光光譜儀(XRF)
型號(hào):
日本島津XRF 1800or 1500 帕納科axios 帕納科ZETIUM
測(cè)試項(xiàng)目:
可測(cè)元素范圍:11Na-92U
制樣方法:壓片、融片
結(jié)果模式:?jiǎn)钨|(zhì)、氧化物
一般是半定量測(cè)試,可測(cè)試的深度是毫米級(jí),可作為一種快速的無損分析。
XRD預(yù)約須知
樣品要求:粉末樣品請(qǐng)準(zhǔn)備至少20mg,0.1g以上最好,量少可以用微量室,但是效果相對(duì)不是很好。需要粒度均勻(粒度在45um左右或過200目篩子),手摸無顆粒感,面粉質(zhì)感;塊狀樣品要求長(zhǎng)寬1-2cm(一般不小于1cm),厚度不超出15mm,需要注明測(cè)試面,測(cè)試面需要平整光潔。
其他特殊需要或者有其他疑問請(qǐng)聯(lián)系當(dāng)?shù)仨?xiàng)目經(jīng)理或客服熱線
普通XRD
型號(hào):X'Pert PRO MPD、D8、Ultima IV
測(cè)試項(xiàng)目:
a. 常規(guī)廣角: 5--90°,小角:0.5--10°;
b. 常規(guī)測(cè)試速率:10°/min、5°/min、2°/min;小角測(cè)試速率:1°/min, 0.5°/min;有其他測(cè)試速率請(qǐng)聯(lián)系當(dāng)?shù)亟?jīng)理;
c. 該測(cè)試只得到樣品的XRD原始譜圖,不包括對(duì)數(shù)據(jù)的處理和分析,需要數(shù)據(jù)分析請(qǐng)到數(shù)據(jù)分析欄目聯(lián)系相關(guān)老師;
更多測(cè)試要求請(qǐng)咨詢客戶經(jīng)理
- 總數(shù):1 頁次:1/1
- 1