2025年09月23日 星期二
生意寶檢測(cè)通,檢測(cè)認(rèn)證一站式平臺(tái)!
- 檢測(cè)認(rèn)證
- |
- 儀器設(shè)備
- |
- 技術(shù)咨詢
- |
- 企業(yè)庫(kù)
- |
- 專家?guī)?/a>
- |
- 標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)
- |
- 資料庫(kù)
- |
- 大型儀器共享
- |
- 資訊
- |
- 展會(huì)
- |
- TBT研究
- |
- 工業(yè)品商城

- 您所在的位置:首頁(yè) >
單晶金剛石片,用原子力顯微鏡測(cè)試樣品的表面粗糙度(AFM)。如果一個(gè)點(diǎn)(掃描區(qū)域)不理想,可以換另外
問題進(jìn)行中,期待更多專家解答
單晶金剛石片,用原子力顯微鏡測(cè)試樣品的表面粗糙度(AFM)。如果一個(gè)點(diǎn)(掃描區(qū)域)不理想,可以換另外
瀏覽:516 解答:1發(fā)布人:唐勇杰
- 咨詢方式:文本
- 問題類別:詢盤
- 發(fā)布時(shí)間:2020-06-03 12:53:55
111積分
問題描述:
單晶金剛石片,用原子力顯微鏡測(cè)試樣品的表面粗糙度(AFM)。如果一個(gè)點(diǎn)(掃描區(qū)域)不理想,可以換另外一個(gè)點(diǎn)(掃描區(qū)域)測(cè)試。(希望樣品的粗糙度要控制在20nm 以下)
已解答: (1)
http://www.weipingtest.cn/wpkj_gxyq 我們能做,歡迎咨詢
預(yù)約須知1. 樣品狀態(tài):可為粉末、塊體、薄膜樣品;2. 粉末樣品:顆粒一般不超過5微米,提供20mg,尺寸過大請(qǐng)?zhí)崆白稍兛蛻艚?jīng)理;3.?粉末/液體樣品請(qǐng)務(wù)必備注好制樣條件,包括分散液,超聲時(shí)間及配制濃度;4. 薄膜或塊狀樣品尺寸要求:長(zhǎng)寬0.5-3cm之間,厚度0.1-1cm之間,表面粗糙度不超過5um,一定要標(biāo)明測(cè)試面!5.?測(cè)試壓電、表面電勢(shì)的材料需要將樣品制備在導(dǎo)電基底上,基底大小最小不小于1*1cm。其他問題請(qǐng)咨詢客戶經(jīng)理。原子力顯微鏡AFM型號(hào):Bruker Dimension Edge;Bruker Dimension ICON等測(cè)試項(xiàng)目:a.?粉末,溶液,塊狀樣品的表面形貌,厚度,粗糙度測(cè)試b. 生物/纖維樣品的表面形貌c.?相圖d.? PFM(壓電力顯微鏡), EFM(電場(chǎng)力顯微鏡), KPFM(表面電勢(shì),Kelvin探針), MFM(磁力顯微鏡), CAFM(導(dǎo)電原子力顯微鏡),QNM(彈性模量),力曲線等特殊模式。更多測(cè)試要求請(qǐng)咨詢客戶經(jīng)理;樣品要求:1. 樣品狀態(tài):可為粉末、塊體、薄膜樣品;2. 粉末樣品:顆粒一般不超過5微米,提供20mg,若尺寸過大請(qǐng)?zhí)崆白稍兛蛻艚?jīng)理;3. 粉末/液體樣品請(qǐng)備注好制樣條件,包括分散液,超聲時(shí)間及配制濃度;4. 薄膜或塊狀樣品尺寸要求:長(zhǎng)寬0.5-3cm之間,厚度0.1-1cm之間,表面粗糙度不超過5um,一定要標(biāo)明測(cè)試面!若尺寸過大請(qǐng)?zhí)崆白稍兛蛻艚?jīng)理5.?測(cè)試壓電、表面電勢(shì)的材料需要將樣品制備在導(dǎo)電基底上,基底大小最小不小于1*1cm。其他問題請(qǐng)咨詢客戶經(jīng)理。
- 總數(shù):1 頁(yè)次:1/1
- 1