高低溫沖擊試驗(yàn)箱 高低溫沖擊試驗(yàn)箱 產(chǎn)品特點(diǎn)及用途 l 適用于電工、電子零部件、半導(dǎo)體、電子線(xiàn)路板、金屬材料、軸承、顯示屏等各種材料,在溫度急劇變化環(huán)境下對(duì)產(chǎn)品的破壞性能試驗(yàn); l 試驗(yàn)箱上部為高溫區(qū),下部為低溫區(qū),試件放置在試驗(yàn)箱中部工作室內(nèi),高溫沖擊時(shí)上風(fēng)門(mén)打開(kāi),形成高溫內(nèi)循環(huán)。低溫沖擊時(shí),上風(fēng)門(mén)關(guān)閉,下風(fēng)門(mén)打開(kāi),形成低溫內(nèi)循環(huán),如有需要還可以與環(huán)境溫度連通,形成三箱法實(shí)驗(yàn); l 試件靜止不動(dòng),避免了因試件移動(dòng)帶來(lái)之諸多不便; l 中英文界面,數(shù)字顯示,直觀易讀; l 溫度偏移正,滿(mǎn)足您更為準(zhǔn)確的實(shí)驗(yàn)要求; l 主要零部件采用進(jìn)口件,確保試驗(yàn)箱具有極高的可靠性; l 多重保護(hù)功能,確保試驗(yàn)箱具有極高的可靠性。 高低溫沖擊試驗(yàn)箱 執(zhí)行及滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn) l GB-2423.1 低溫試驗(yàn)方法; l GB-2423.2 高溫試驗(yàn)方法; l GB-2423.22 溫度沖擊試驗(yàn); l GJB150.5 溫度沖擊試驗(yàn); l MIL-STD-810F-503.4 高低溫沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù) l 溫度波動(dòng)度:≤±0.5℃ l 溫度偏差:≤±2℃ l 高溫室升溫時(shí)間:RT~200℃ ≤30min l 低溫室降溫時(shí)間:RT~-60℃ ≤60min l 溫度恢復(fù) 時(shí) 間:≤5min l 風(fēng) 門(mén) 開(kāi) 啟:≤5s