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高加速溫濕度應(yīng)力測(cè)試(HAST)是一種以溫濕度為環(huán)境參數(shù)的高加速電子元器件可靠性測(cè)試方法。 HAST 也稱為壓力鍋測(cè)試 (PCT) 或不飽和壓力鍋測(cè)試 (USPCT)。其目的是通過(guò)將測(cè)試室中的水蒸氣壓力增加到高于測(cè)試樣品內(nèi)部水蒸氣分壓的極高水平來(lái)評(píng)估測(cè)試樣品的耐濕性。
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