高溫存儲(chǔ)壽命試驗(yàn)

實(shí)驗(yàn)?zāi)康?/strong>

為了考核高溫對(duì)試樣的影響，確定試樣在高溫條件下存儲(chǔ)的適應(yīng)性。該實(shí)驗(yàn)一般用到高低溫 試驗(yàn)箱。

實(shí)驗(yàn)原理

電子元器件在高溫環(huán)境中，其冷卻條件惡化，散熱困難，將使器件的電參數(shù)發(fā)生明顯變化或 絕緣性下降。使電子元器件處于高溫下一定時(shí)間,考核電子元器件的外觀與電參數(shù)是否發(fā)生變 化，從而確定電子元器件的抗高溫能力。

實(shí)驗(yàn)參考標(biāo)準(zhǔn)

JESD22-A103、GJB1864A-2011