檢測認證人脈交流通訊錄
深圳供應(yīng)低溫存儲壽命試驗/STT賽特檢測
這真不是您需要的服務(wù)？
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對應(yīng)法規(guī)：JESD22-A119
CNAS認可項目：是 實驗?zāi)康?/strong>
為了考核低溫對試樣的影響，確定試樣在低溫條件下存儲的適應(yīng)性。該實驗一般用到高低溫 試驗箱。
實驗原理
低溫下電子元器件的電參數(shù)會發(fā)生變化、材料變脆及其材料冷縮產(chǎn)生應(yīng)力等。使電子元器件 處于低溫環(huán)境下一定時間,考核電子元器件的電參數(shù)是否發(fā)生變化、材料是否變脆、材料冷縮 產(chǎn)生應(yīng)力有多大等，從而確定電子元器件的抗低溫能力。
實驗參考標準
JESD22-A119、IEC60068-2-1、GJB1864A-2011
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