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深圳南山科技園附近EMC電磁兼容測(cè)試靜電ESD測(cè)試實(shí)驗(yàn)室公司
EMC靜電ESD測(cè)試
EMC測(cè)試分為電磁干擾EMI和電磁 敏感性,即抗干擾EMS,靜電放電抗擾度是EMS中的一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目,因?yàn)閹ъo電的物體進(jìn)行放電時(shí)會(huì)產(chǎn)生放電電流,這個(gè)放電電流會(huì)產(chǎn)生短暫的強(qiáng)度很大的電磁場(chǎng)。放電時(shí)產(chǎn)生短暫的放電電流和相應(yīng)的電磁場(chǎng)可能引起電氣、電子設(shè)備的電路發(fā)生故障,甚至損壞。靜電放電試驗(yàn)的目的就是檢驗(yàn)電氣、電子設(shè)備在遭受這類靜電放電騷擾時(shí)的性能。
靜電放電試驗(yàn)主要針對(duì)用戶可以實(shí)施的維護(hù)。正常使用中用戶可以接觸的區(qū)域,正常使用的位置,分為直接放電和接觸放電直接放電模擬了操作人員對(duì)受試設(shè)備直接接觸時(shí)發(fā)生的靜電放電情況。間接放電則是對(duì)水平耦合板和垂直耦合板進(jìn)行放電,模擬了操作人員對(duì)放置于或安裝在受試設(shè)備附近的物體放電時(shí)的情況。其中接觸放電是優(yōu)先選擇的試驗(yàn)方法,間接放電只有在不能使用接觸放電的場(chǎng)合中。
一般實(shí)驗(yàn)室的布置時(shí)這樣的,臺(tái)式設(shè)備放在離參考水平面0.8m高的桌子上,并用0.5mm的絕緣襯墊將受試設(shè)備和電纜與耦合板隔開(kāi),受試設(shè)備與耦合板各邊的距離不小于0.1m,在試驗(yàn)過(guò)程中,在EUT上選取放電點(diǎn),然后在確定在這一點(diǎn)是選擇接觸放電還是空氣放電,一般金屬外殼進(jìn)行接觸放電,絕緣外殼進(jìn)行空氣放電,有絕緣層的金屬外殼要刮破絕緣層進(jìn)行直接放電,每個(gè)放電點(diǎn)的放電次數(shù)不少于10次,每次間隔不小于1秒
檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室介紹
10m開(kāi)放式測(cè)試場(chǎng) (Radiated Test)
半電波暗室 (EMI Pretest)
電波隔離室 (Conducted / Power Clamp Test)
磁場(chǎng)輻射測(cè)試室 (lighting devices Test)
超低頻輻射測(cè)試室 (LR/TCO Test)
電磁干擾修改室 (EMI Debug)
全電波暗室 (RS Test)
靜電放電測(cè)試室 (ESD Test)
雷擊測(cè)試室 (Surge Test)
傳導(dǎo)耐受測(cè)試室 (CS Test)
性快速脈沖&電源諧波&電壓變動(dòng)&磁場(chǎng)耐受測(cè)試室(EFT/Harmonics/Flickers/Magnetic immunity test)
電磁耐受修改室 (RS Debug)
我們的優(yōu)勢(shì):
(1)速度最快,價(jià)格最優(yōu),七天就可以完成測(cè)試并拿到證書(shū)!
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