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機(jī)構(gòu)登錄
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檢測認(rèn)證人脈交流通訊錄
- 儀器名稱：掃描探針顯微鏡
- 價(jià)格型號(hào)：Nanoscope*
- 儀器分類：分析儀器/顯微鏡及圖象分析儀器/掃描探針顯微鏡
- 應(yīng)用領(lǐng)域：電腦 軟件;電子元器件
- 所屬單位：復(fù)旦大學(xué)信息科學(xué)與工程學(xué)院
- 所在地點(diǎn)：上海市楊浦區(qū)邯鄲路220號(hào)
- 產(chǎn) 地：美國
- 產(chǎn) 商：美國Veeco Instruments 公司
- 價(jià) 值：0
- 購置日期：0000-00-00
主要技術(shù)指標(biāo)：AFM噪聲水平0.3 ,可對云母、石墨原子像成像控制器反饋相應(yīng)時(shí)間：2s,采樣率50MHZ掃描范圍：0.4μm×0.4μm×0.4μm或10μm×10μm×2.5μm TUNAZ:電流測量分辨率~2PA;加放大器~50fA
功能/應(yīng)用范圍：系統(tǒng)包含原子力顯微鏡、電力顯微鏡、表面電勢、電流等微區(qū)測量功能。用于半導(dǎo)體材料的表面微結(jié)構(gòu)及微區(qū)電學(xué)特性測試。
技術(shù)特色：-
主要測試和研究領(lǐng)域：電子/信息技術(shù)
收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)：其它收費(fèi)方式
儀器負(fù)責(zé)人：黃大鳴,陳潔
電話：021-51355420
電子郵件：dmhuang@fudan.edu.cn
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