SEM成像，是通過detecter獲得二次電子和背散射電子的信號(hào)。如樣品不導(dǎo)電或?qū)щ娦圆缓?，?huì)造成樣品表面多余電子或游離粒子的累積不能及時(shí)導(dǎo)走，一定程度后就反復(fù)出現(xiàn)充電放電現(xiàn)象（charging)，最終影響電子信號(hào)的傳遞，造成圖像扭曲，變形、晃動(dòng)等現(xiàn)象，噴金后樣品表面導(dǎo)電增強(qiáng)，從而避免積電現(xiàn)象

噴金后，對(duì)樣品形貌是否有影響？

樣品表面噴金后，只是在其表面覆蓋了幾個(gè)到十幾個(gè)金原子層，厚度只有幾個(gè)納米到十幾個(gè)納米而已，對(duì)于看形貌來說，幾乎是沒有什么影響的

能現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試嗎？寄樣的話，我不在旁邊怎么才能拍到我要的圖片？

現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試：不同城市，可以現(xiàn)場(chǎng)安排的樣品及要求不同，具體可咨詢當(dāng)?shù)氐膶?duì)接人員； 寄樣測(cè)試：SEM或TEM，會(huì)給到您一個(gè)測(cè)試單，您把對(duì)應(yīng)的制樣要求（分散劑、超聲時(shí)間、銅網(wǎng)等）、測(cè)試要求（標(biāo)尺、拍攝位置、形貌效果等）、測(cè)試目的等寫清楚，測(cè)試?yán)蠋煏?huì)按您指定的要求來拍

一個(gè)樣品會(huì)提供幾張圖片？

每樣品提供6-8張左右，具體根據(jù)樣品的拍攝情況而定

結(jié)果展示：

1. 表面形貌圖（SIGMA HD）

2. 截面形貌圖（S4800）

3. 點(diǎn)掃圖（S4800）

4. 線掃圖（S4800）

5. 面掃圖（SIGMA HD）

服務(wù)簡(jiǎn)介

掃描電鏡一種新型的電子光學(xué)儀器。它具有制樣簡(jiǎn)單、放大倍數(shù)可調(diào)范圍寬、圖像的分辨率高、景深大等特點(diǎn)。數(shù)十年來，掃描電鏡已廣泛地應(yīng)用在生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、冶金學(xué)等學(xué)科的領(lǐng)域中，促進(jìn)了各有關(guān)學(xué)科的發(fā)展。掃描電鏡種類齊全，基本能滿足不同學(xué)科，樣品的測(cè)試要求。

樣品要求

1. 強(qiáng)磁，弱磁性樣品請(qǐng)下單磁性項(xiàng)目。一般含鐵鈷鎳等樣品認(rèn)為具有磁性風(fēng)險(xiǎn)，同時(shí)磁性樣品高倍（大概為10W倍以上）具有拍攝不清晰的風(fēng)險(xiǎn)。

2. 粉末樣品提供5-10 mg。塊體，或者薄膜樣品尺寸不得超過2X2X2 cm 尺寸，并標(biāo)記所要測(cè)試面。不支持樣品回收。

3. 樣品不具腐蝕性，毒性，揮發(fā)性，為干燥狀態(tài)，液體樣品需要制備在鋁箔或硅片上烘干，并直接郵遞相應(yīng)的鋁箔或硅片。

檢測(cè)項(xiàng)目

強(qiáng)磁，弱磁，非磁性樣品的形貌，點(diǎn)，線，面（mapping）測(cè)試

常見問題及解答

測(cè)試后給到的結(jié)果是什么數(shù)據(jù)形式？

形貌數(shù)據(jù)以圖片格式為主，能譜數(shù)據(jù)為word報(bào)告及可編輯的TXT格式。

1. 我的樣品是否需要噴金？

金屬，碳材料等導(dǎo)電性良好的樣品不需要噴金；對(duì)于其他金屬氧化物，陶瓷，半導(dǎo)體等導(dǎo)電性一般或較差的樣品需要噴金，一般默認(rèn)噴金時(shí)長(zhǎng)為60-90S；

3. 現(xiàn)場(chǎng)與委托測(cè)試選擇相關(guān)問題？

在全國(guó)很多城市都能滿足現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試需求，您可以和當(dāng)?shù)劁N售聯(lián)系進(jìn)行；對(duì)于委托測(cè)試單，我們需要您充分，負(fù)責(zé)填寫委托測(cè)試單，來確保測(cè)試?yán)蠋熣业阶罴研蚊布敖Y(jié)果；因此委托測(cè)試務(wù)必樣品編號(hào)清晰與打印版委托測(cè)試單一起交于我們的銷售人員；

4. 提供照片張數(shù)？

6-12張不等；特殊情況另儀